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Moyens & Equipements

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BANC DE CARACTÉRISATION DE MATÉRIAUX EN ESPACE LIBRE FOCALISÉ (6-110GHZ)

Mesure du profil de permittivité et/ou perméabilité complexes des matériaux entre 6 et 110GHz. Possibilité de caractériser les matériaux multicouches et inhomogènes sur une plage de température -50°C/+400°C.

BASE COMPACTE DE MESURE D’ANTENNES 8-110 GHZ

Mesure de caractéristiques d’antennes de la bande X à la bande W (diagrammes, gain, etc)

BANC DE MESURE D’EFFICACITÉ DE BLINDAGE DE MATÉRIAUX ENTRE 10MHZ ET 1GHZ

Mesure de l’atténuation du champ magnétique entre deux antennes boucles. Possibilité de calculer l’efficacité de blindage, l’impédance de transfert et la conductivité électrique équivalente.

BANC D’ANALYSE POUR L’IMPLÉMENTATION DE SYSTÈME ANTENAIRE

S11 des antennes

UTILISATION DES MOYENS D’INSTRUMENTATION CIRCUITS DE LA PLATEFORME PLATINOM DE L’INSTITUT XLIM

Mesure des cartographies de chaque composante des champs E et H en module et en phase avec une précision de déplacement de 10µm. Utilisation de sondes de champ proche couvrant la bande de 100kHz à 6GHz. Moyen d’essais développé par XLIM (axe Systèmes RF, équipe CEM&Diffraction) et mis à disposition de CISTEME.

Banc 3D robotisé 5 axes pour la mesure de champs proches.

Cavités résonantes pour la caractérisation de matériaux, microscopes et rugosimètres, bancs de caractérisation de dispositifs actifs en temporel/fréquentiel