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Mesures

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COMPOSANTS HYPERFRÉQUENCES
SYSTÈMES HYPERFRÉQUENCES ET APPLICATIONS
MESURE
Caractérisation de composants
hyperfréquences
Caractérisation
de matériaux

SAVOIR-FAIRE ET EXPERTISES

  • Simulation électromagnétiques 3D de systèmes complexes
  • Développement de méthodes analytiques originales
    pour la résolution de problématiques CEM
  • Mesures de pré-qualification
  • Caractérisation de matériaux
  • Caractérisation de circuits RF et millimétriques
  • Mesures antennes

MARCHÉS CIBLES

  • Télécom terrestres et spatiales
  • défense
  • communications cellulaire et sans fil
  • transport

MOYENS EXPÉRIMENTAUX ET/OU SIMULATOIRES

  • Base compacte millimétrique (8 GHz- 110 GHz)
  • Banc de caractérisation de matériaux en espace libre focalisé pour la mesure d’échantillons entre 5 et 110 GHz. Possibilité de caractériser des matériaux homogènes, multicouches, diélectriques ou magnétiques.
  • ARV ZVA67 avec extensions ZVA-Z110. Pour la mesure de systèmes RF (guides, antennes, circuits actifs, cavités, circuits passifs) jusqu’à 110GHz.
  • Chambre semi-anéchoique pour essais CEM
  • Accès à la plateforme PLATINOM du laboratoire XLIM

Emmanuel PERRIN

Responsable d’axe
–
perrin@cisteme.net
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