Mesures
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LA PLAQUETTE
Caractérisation de composants
hyperfréquences
hyperfréquences
Caractérisation
de matériaux
de matériaux
SAVOIR-FAIRE ET EXPERTISES
- Simulation électromagnétiques 3D de systèmes complexes
- Développement de méthodes analytiques originales
pour la résolution de problématiques CEM - Mesures de pré-qualification
- Caractérisation de matériaux
- Caractérisation de circuits RF et millimétriques
- Mesures antennes
MARCHÉS CIBLES
- Télécom terrestres et spatiales
- défense
- communications cellulaire et sans fil
- transport
MOYENS EXPÉRIMENTAUX ET/OU SIMULATOIRES
- Base compacte millimétrique (8 GHz- 110 GHz)
- Banc de caractérisation de matériaux en espace libre focalisé pour la mesure d’échantillons entre 5 et 110 GHz. Possibilité de caractériser des matériaux homogènes, multicouches, diélectriques ou magnétiques.
- ARV ZVA67 avec extensions ZVA-Z110. Pour la mesure de systèmes RF (guides, antennes, circuits actifs, cavités, circuits passifs) jusqu’à 110GHz.
- Chambre semi-anéchoique pour essais CEM
- Accès à la plateforme PLATINOM du laboratoire XLIM
Emmanuel PERRIN
Responsable d’axe
–
perrin@cisteme.net
05 19 09 00 34
Mise en place d’un banc de susceptibilité aux fréquences millimétriques (bande V)
Conception de sondes de caractérisation de matériauxin situ en bandes X et K